In de moderne chipindustrie is de strijd om de nanometer allesbepalend. Nu fabrikanten zoals ASML en hun toeleveranciers structuren etsen die slechts enkele atomen breed zijn, is de marge voor meetfouten nagenoeg verdwenen. Om deze extreme precisie te waarborgen, volstaat een traditionele optische microscoop niet meer. Bij het Mitutoyo Research Center Europe (RCE) in Best vormt de Atomic Force Microscope (AFM) daarom het kloppend hart van hun metrologische innovatie, essentieel voor de kwaliteitscontrole binnen de semiconductor-keten. Lees verder [Bron foto: Mitutoyo RCE]
